共聚焦顯微鏡TCS SP8可應用于哪些方面

     共聚焦技術(shù)，使確定可靠的測量數據獨立的表面的反射的程度。對納米焦點(diǎn)技術(shù)µsurf的光學(xué)方法，µscan和µsprint也使明智的表面無(wú)損檢測在生產(chǎn)和加工的不同階段。涂層表面層厚度的測定測量也是可能的。共聚焦顯微鏡TCS SP8包括LED光源、旋轉多針孔盤(pán)、帶有壓電驅動(dòng)器的物鏡和CCD相機。LED源通過(guò)多針孔盤(pán)和物鏡聚焦到樣品表面上，從而反射光。反射光通過(guò)MPD的針孔減小到聚焦的部分，這落在CCD相機上。來(lái)自傳統光學(xué)顯微鏡的圖像包含清晰和模糊的細節。相反，在共焦圖像中，通過(guò)多針孔盤(pán)的操作濾除模糊細節（未聚焦）。只有來(lái)自焦平面的光到達CCD相機，因此共聚焦顯微鏡TCS SP8能夠在納米范圍內獲得高分辨率。